科学家发明原子级“透视镜” 半导体缺陷无所遁形 2024年7月7日 IT之家 IT之家 7 月 7 日消息,美国密歇根州立大学 (MSU) 的物理学家们开发了一种新的方法,可以以原子尺度分析半导体。这种方法将高分辨率显微镜与超快激光结合起来,可以以前所未有的… 阅读全文